技術文章
TECHNICAL ARTICLES在科學探索的漫長征程中，人類對物質本質的追問從未停歇。從宏觀的星辰大海到微觀的原子晶格，每一次觀測尺度的跨越，都伴隨著工具的革命。衍射儀，正是這樣一把開啟微觀世界大門的鑰匙。它并非直接“看到”原子，而是通過一束X射線、中子或電子與晶體結構的巧妙“對話”，將隱形的周期性排列轉化為可解讀的衍射圖樣，從而讓物質的內部秩序躍然紙上。衍射的核心：當波遇到有序衍射儀的工作原理根植于一個優美的物理現象：當波長與原子間距相當的波（如X射線）射入晶體時，不同原子層反射的波會相互干涉。只有在滿足...
布魯克X射線部門張振義近期有同學問我：對于孿晶的處理，腦子學會了(理論聽懂了)，但是眼睛和手沒有學會（實際操作沒那么簡單），怎么辦。我聽到這個問題，覺得挺有意思。確實即便是你學會了Cell_NOW,APEX6-Domain（CELL_LATER）功能去拆分孿晶，也不表示你就能搞定高復雜度的孿晶問題。當孿晶的疊加程度很高時，如果一個晶疇（Domain）沒能正確分出，或是晶胞參數求解出錯，后續所有自動化處理功能都將失去作用。因此孿晶體系越復雜，實際處理難度就越大，絕非只弄懂理論就...
行業發展趨勢伴隨國內新材料、精細化工、醫藥制造等產業規模擴大，材料微觀表征的需求不斷釋放。晶體結構直接關聯材料理化性能，晶型、物相的微小變化，會對成品性能帶來明顯影響，因此物相檢測環節越來越受重視。市場端，實驗室用戶不再只關注設備硬件參數，同時看重配套應用方案、后期運維服務。很多生產企業把粉末衍射檢測嵌入生產全流程，從原料入庫、工藝調試到成品出廠，實現常態化檢測。行業也在不斷優化軟件算法，簡化圖譜解析門檻，降低操作人員的使用難度，讓更多非專業人員也可以完成基礎檢測工作。粉末衍...
行業發展趨勢新材料產業持續推進，材料微觀結構分析成為研發、質量管控環節中不可少的一環。下游的化工、無機非金屬、制藥、礦產、新能源材料等領域，對于物相定性定量分析、晶粒尺寸、殘余應力檢測的需求持續增長。過去很多檢測工作依賴外部第三方檢測機構完成，現如今越來越多的企業、科研院所選擇搭建內部實驗室，配置粉末衍射類分析設備。行業整體朝著檢測自動化、操作簡易化、數據輸出標準化方向演進，設備不再僅僅服務于科研實驗室，工業生產端來料檢驗、成品質控的應用占比正在逐步提升。同時國產設備技術迭代...
布魯克X射線部門朱性齊為了找到測試銅箔樣品的更好的配置，這里對Cu箔樣品在三種不同的配置下進行了嘗試：1）第一種：線焦斑Cu靶BB幾何測試模式；2）第二種：線焦斑Cu靶+GM鏡測試模式；3）第三種：線焦斑Co靶BB幾何測試模式；為了獲得相近的角度分辨率，第一種和第三種配置的發散狹峰均為1.0mm，第二種配置中的鏡子出口放置了0.2mm的出射狹縫。三種模式的測試結果如下圖1所示：▲圖1：黑色曲線是第一種模式的測試結果，紅色曲線是第二種模式的測試結果，藍色曲線是第三種模式的測試結...
在半導體材料、催化科學、能源器件、薄膜技術及失效分析等前沿領域，材料的表面化學組成與電子態結構直接決定了其性能表現。光電子能譜儀（XPS/ESCA），作為能夠同時提供表面元素組成、化學狀態和電子結構信息的分析工具，被譽為“材料表面分析的眼睛”。2026年，隨著半導體行業、新能源材料和先進涂層技術的快速發展，光電子能譜儀已成為研發與質控實驗室的核心表面分析裝備。本文將為您系統解析光電子能譜儀的技術原理、主流類型與選型關鍵要素。一、光電子能譜儀的工作原理與核心信息光電子能譜儀（X...
一、薄膜材料分析推動XRD技術升級隨著半導體、光電顯示、新能源電池等產業的快速發展，薄膜材料的研發與質量控制已成為材料科學的重要方向。薄膜材料的性能高度依賴于其晶體結構、取向、應力狀態及界面特性，而這些參數的精確表征離不開高分辨X射線衍射技術。在薄膜分析中，常規XRD測試面臨一個現實挑戰：X射線的穿透深度一般在幾微米到幾十微米，遠大于薄膜厚度，導致薄膜信號易受襯底影響。掠入射XRD（GID）技術通過使X射線以很小的入射角照射樣品，有效減小穿透深度，成為研究多晶薄膜的常用方法。...
在材料科學與工程的世界里，物質的宏觀性能——強度、導電性、光學響應、催化活性——無一不被其微觀晶體結構所深刻支配。同樣的化學成分，因原子排列方式的不同（如石墨與金剛石），可以呈現天壤之別的物理與化學特性。如何“看見”原子在空間中的周期性排列，如何精準識別多相混合物的相組成，如何定量分析晶格常數、晶粒尺寸與殘余應力？XRD衍射系統正是這一領域最核心、最有力的分析工具。它以X射線為“探針”，探測材料內部原子晶面的間距與排布，成為材料研發與質量控制領域的“微觀之眼”。測量原理：布拉...
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